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检测执行标准信息一览：
标准简介：本标准规定了用直流两探针测量硅和锗单晶锭电阻率的方法。本标准适用于测量截面积均匀的圆形、方形或矩形单晶锭的电阻率。
标准号：GB/T 1551-1995
标准名称：硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法
英文名称：Test method for rseistivity of silicon and germanium bars using a two-point probe
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
标准状态：作废
发布日期：1995-04-18
实施日期：1995-01-02
中国标准分类号（CCS）：冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法
国际标准分类号（ICS）：冶金>>金属材料试验>>77.040.30金属材料化学分析
替代以下标准：替代GB 1551-1979;GB 5253-1985;被GB/T 1551-2009代替
起草单位：上海有色金属工业总公司
归口单位：全国半导体材料和设备标准化技术委员会
发布单位：国家技术监督局
检测流程步骤
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