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检测执行标准信息一览：
标准简介：本标准规定了测量封装引线电阻的方法。本标准适用于针栅阵列封装（PGA）引线电阻的测试。该测试技术也适用于其他微电子封装如无引线片式载体（LCC）、四边引线扁平封装（QEP）和陶瓷双列封装（CDIP）等引线电阻的测试。
标准号：GB/T 19248-2003
标准名称：封装引线电阻测试方法
英文名称：Test method for measuring the resistance of package leads
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
标准状态：现行
发布日期：2003-07-02
实施日期：2003-10-01
中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>微电路>>L55微电路综合
国际标准分类号（ICS）：电子学>>31.200集成电路、微电子学
起草单位：中国电子技术标准化研究所
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
发布单位：国家质量监督检验检疫.
检测流程步骤
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