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检测执行标准信息一览：
标准简介：本标准规定了半导体多晶、单晶、晶片、外延片等产品的牌号表示方法。本标准适用于半导体多晶、单晶、晶片、外延片等产品的牌号表示，其他半导体材料牌号表示可参照执行。
标准号：GB/T 14844-2018
标准名称：半导体材料牌号表示方法
英文名称：Designations of semiconductor materials
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
标准状态：现行
发布日期：2018-12-28
实施日期：2019-11-01
中国标准分类号（CCS）：冶金>>半金属与半导体材料>>H80半金属与半导体材料综合
国际标准分类号（ICS）：电气工程>>29.045半导体材料
替代以下标准：替代GB/T 14844-1993
起草单位：浙江省硅材料质量检验中心、有色金属技术经济研究院、有研半导体材料有限公司、浙江海纳半导体有限公司、东莞中镓半导体科技有限公司、南京国盛电子有限公司、江苏中能硅业科技发展有限公司、苏州协鑫光伏科技有限公司、天津市环欧半导体材料技术有限公司
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全
发布单位：国家市场监督管理总局.
检测流程步骤
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