检测报告图片模板：
检测执行标准信息一览：
标准简介：IEC 电子器件质量评定体系遵循IEC章程并在IEC授权下工作。该体系的目的是确定质量评定程序，以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行地电子器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。本空白详细规范使半导体器件的一系列空白详细规范之一，并应与下列IEC标准一起使用。IEC 60747-10/QC 700000:1991 半导体器件 第10部分 分立器件和集成电路总规范。IEC 60747-12/QC 720100:1991 半导体器件 第12部分 光电子器件分规范
标准号：GB/T 18904.3-2002
标准名称：半导体器件 第12-3部分: 光电子器件 显示用发光二极管空白详细规范
英文名称：Semiconductor devices-Part 12-3:Optoelectronic devices-Blank detail specification for light emitting diodes--Display applicaton
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
标准状态：现行
发布日期：2002-12-04
实施日期：2003-05-01
中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>光电子器件>>L54半导体光敏器件
国际标准分类号（ICS）：电子学>>31.260光电子学、激光设备
替代以下标准：GB/T 12561-1990
起草单位：华禹光谷股份有限公司半导体厂
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
发布单位：国家质量监督检验检疫.
检测流程步骤
免责声明：
1.本站标准库为非营利性质，仅供各行人士相互交流、学习使用，使用标准请以正式出版的标准版本为准。
2.全部标准资料均来源于网络，不保证文件的准确性和完整性，如因使用文件造成损失，本站不承担任何责任。
3.全部标准资料均来源于网络，本站不承担任何技术及版权问题，如有相关内容侵权，请联系我们删除。
