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检测执行标准信息一览：
标准简介：本标准规定了薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的要求、测试方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本标准适用于薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片(以下简称“基片”)的生产和采购,采用薄膜工艺的片式元件用氧化铝陶瓷基片也可参照使用。
标准号：GB/T 14620-2013
标准名称：薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
英文名称：Alumina ceramic substrates for thin film integrated circuits
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
标准状态：现行
发布日期：2013-11-12
实施日期：2014-04-15
中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>电子设备专用材料、零件、结构件>>L90电子技术专用材料
国际标准分类号（ICS）：31.030
替代以下标准：替代GB/T 14620-1993
起草单位：中国电子技术标准化研究院
归口单位：中国电子技术标准化研究院
发布单位：国家质量监督检验检疫.
检测流程步骤
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