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检测执行标准信息一览：
标准简介：本规范规定了编制半导体集成电路双极熔丝式可编程只读存储器详细规范的基本原则。本规范是半导体集成电路一系列空白详细规范中的一个，它应与GB 4589.1《半导体器件 分立器件和集成电路总规范》和GB 12750《半导体集成电路分规范》一起使用。
标准号：GB/T 14119-1993
标准名称：半导体集成电路双极熔丝式可编程只读存储器 空白详细规范(可供认证用)
英文名称：Blank detail specification for semiconductor integrated circuit fusible-link programmable bipolar read-only memories
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
标准状态：现行
发布日期：1993-01-21
实施日期：1993-08-01
中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路
国际标准分类号（ICS）：电子学>>31.200集成电路、微电子学
起草单位：集成电路标委会
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
发布单位：国家技术监督局
检测流程步骤
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