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检测执行标准信息一览：
标准简介：本标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X-射线能谱仪（EDS）特性较重要的性能参数。本标准仅适用基于固态电离原理的半导体探测器能谱仪。本标准规定了与扫描电镜（SEM）或电子探针（EPMA）联用的EDS性能参数的较低要求以及核查方法。至于实际分析过程，在ISO 22309和 ASTM E1508 中已有规范，不在本标准范围之内。
标准号：GB/T 20726-2015
标准名称：微束分析 电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法
英文名称：Microbeam analysis—Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy dispersive X-ray spectrometers for use in electron probe microanalysis
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
标准状态：现行
发布日期：2015-10-09
实施日期：2016-09-01
中国标准分类号（CCS）：化工>>化工综合>>G04基础标准与通用方法
国际标准分类号（ICS）：化工技术>>分析化学>>71.040.99有关化学分析方
替代以下标准：替代GB/T 20726-2006
起草单位：中国科学院地质与地球物理研究所。
归口单位：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
发布单位：国家质量监督检验检疫.
检测流程步骤
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