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检测执行标准信息一览：
标准简介：本标准等同采用国际标准IEC60747-4：2001《半导体器件 分立器件 第4部分：微波器件》，内容包括：总则，变容二极管、阶跃二极管和快速开关肖特基二极管，混频二极管和检波二极管，雪崩二极管，体效应二极管，双极型晶体管，场效应晶体管，评价和可靠性-特殊要求等内容。
标准号：GB/T 20516-2006
标准名称：半导体器件 分立器件 第4部分：微波器件
英文名称：Semiconductor devices - Discrete devices - Part 4: Microwave devices
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
标准状态：现行
发布日期：2006-10-10
实施日期：2007-02-01
中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合
国际标准分类号（ICS）：电子学>>半导体器件>>31.080.01半导体器件综合
起草单位：中国电子科技集团公司第五十五研究所
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
发布单位：国家质量监督检验检疫.
检测流程步骤
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