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检测执行标准信息一览：
标准简介：本部分适用于半导体传感器，它等同采用IEC 60747-14-1:2000《半导体器件 第14-1部分：半导体传感器－总则和分类》，本部分描述了有关传感器规范的基本条款，这些条款适用于由半导体材料制造的传感器也适用于由其他材料（例如绝缘或铁电材料）所制造的传感器。
标准号：GB/T 20521-2006
标准名称：半导体器件 第14-1部分：半导体传感器-总则和分类
英文名称：Semconductor devices Part 14-1: Semiconductor sensors - General and classification
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
标准状态：现行
发布日期：2006-08-23
实施日期：2007-02-01
中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合
国际标准分类号（ICS）：电子学>>半导体器件>>31.080.01半导体器件综合
起草单位：中国电子技术标准化研究所
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
发布单位：国家质量监督检验检疫.
检测流程步骤
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