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检测执行标准信息一览:
标准简介:本部分适用于半导体传感器,它等同采用IEC 60747-14-1:2000《半导体器件 第14-1部分:半导体传感器-总则和分类》,本部分描述了有关传感器规范的基本条款,这些条款适用于由半导体材料制造的传感器也适用于由其他材料(例如绝缘或铁电材料)所制造的传感器。
标准号:GB/T 20521-2006
标准名称:半导体器件 第14-1部分:半导体传感器-总则和分类
英文名称:Semconductor devices Part 14-1: Semiconductor sensors - General and classification
标准类型:国家标准
标准性质:推荐性
标准状态:现行
发布日期:2006-08-23
实施日期:2007-02-01
中国标准分类号(CCS):电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合
国际标准分类号(ICS):电子学>>半导体器件>>31.080.01半导体器件综合
起草单位:中国电子技术标准化研究所
归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会
发布单位:国家质量监督检验检疫.
检测流程步骤
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