GB/T 40067-2021.Microstructure and defect determination of tungsten carbide powder.
1范围
GB/T 40067规定了碳化钨粉末微观组织观察及缺陷分析的扫描电子显微镜检测方法。
GB/T 40067适用于粒度为0.1 um~0.5 pm碳化钨粉末的微观组织及缺陷的扫描电子显微镜检测。
2规范性引用文件
本文件没有规范性引用文件。
3术语和定义
本文件没有需要界定的术语和定义。
4原理
利用扫描电子显微镜观察制备好的碳化钨粉末形貌﹐从形貌上区分碳化钨粉末硬团聚、碳化钨粉末夹粗晶粒抑制剂聚集和杂质,通过X射线能谱仪对晶粒抑制剂和杂质进行确定。
5仪器设备
5.1扫描电子显微镜。
5.2X射线能谱仪。
5.3超声波分散器。
5.4样品台:样品台应导电,端面应光滑﹑平整、干净。
6样品
待测样品应干燥,无板结,具有代表性。
7试验步骤
7.1微观组织观察
7.1.1剪取少量碳导电胶置于样品台﹐用镊子夹持样品台蘸取碳化钨粉末样品于碳导电胶上。
7.1.2将样品压平,用洗耳球吹掉未粘牢的样品后,放入扫描电子显微镜中。
7.1.3 在低倍视场下浏览整个样品,在平整部位放大5 000×~30 000×观察样品组织形貌。
注:为观察样品表面细节,建议采用低电压近距离的工作模式。
7.2缺陷分析
7.2.1用烧杯量取适量酒精或丙酮,加入少量碳化钨粉末样品,用超声波分散器分散5 min~10 min