GB/T 39865-2021.Method for measuring refractive index of uniaxial optical crystals.
1范围
GB/T 39865规定了单轴晶光学晶体折射率测量方法的环境要求测量原理与方法、检测仪器要求、待测量样品准备、测量步骤、数据处理和不确定度评定。
GB/T 39865适用于单轴晶光学晶体的折射率测量,其他光学晶体的折射率测量可参照执行。
2测量环境要求
测量环境要求如下:
a) 温度:21℃士3℃ ,测量过程中温度变化不大于0.5℃;
b) 相对湿度:不大于30%;
c)振动:满足设备对环境的振动要求。
4仪器要求
4.1所采用的仪 器为折射率测量仪。
4.2折射率测量仪光源的要求:波长范围满足晶体折射率测量要求。
5样品
5.1 晶体样品需加工成直角棱镜,样品示意图如图2所示。
5.2 待测样品顶角θ应保证入射光在出射面abef不发生全反射, 范围宜10°~35°。
5.3直角面abcd和斜面abef分别为抛光的人射面abcd和出射面abef,尺寸为10mmX10mm~20mmX20mm,且应保证晶体直角面abcd以及斜面abef与底面adf垂直。人射面abcd和出射面abef为抛光面,面形应优于0.2入(入=632.8nm),其他表面为毛面。
5.4待测样 品选择晶体光轴垂直或平行于棱镜直角边,光轴与人射面abcd法线夹角90°士5'。
5.5待测样品置于测量环境中2h~5h以上。
5.6待测样品表面不应有污渍、擦痕。