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检测执行标准信息一览：
标准简介：本标准规定了采用红外光谱法测定硅单晶中的间隙氧含量的方法。本标准适用于室外温电阻率大于0.1Ω·cm的n型硅单晶和室温电阻率大于0.5Ω·cm中间的p型硅单晶中间隙氧含量的测量。本标准测量氧含量的有效范围从1×1016at·cm-3到硅中间隙氧的*大固熔度。
标准号：GB/T 1557-2006
标准名称：硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
英文名称：The method of determining interstitial oxygen content in silicon by infrared absorption
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
标准状态：作废
发布日期：2006-07-18
实施日期：2006-11-01
中国标准分类号（CCS）：冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法
国际标准分类号（ICS）：冶金>>金属材料试验>>77.040.30金属材料化学分析
替代以下标准：替代GB/T 14143-1993;GB/T 1557-1989;被GB/T 1557-2018代替
起草单位：峨眉半导体材料厂
归口单位：全国有色金属标准化技术委员会
发布单位：质量监督检验检疫总局.
检测流程步骤
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