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GB/T11685-1989半导体X射线能谱仪的测试方法

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检测执行标准信息一览:

标准号:GB/T 11685-1989

标准名称:半导体X射线能谱仪的测试方法

英文名称:Test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers

标准类型:国家标准

标准性质:推荐性

标准状态:作废

发布日期:1989-10-14

实施日期:1990-05-01

中国标准分类号(CCS):能源、核技术>>核仪器与核探测器>>F80核仪器与核探测器综合

国际标准分类号(ICS):计量学和测量、物理现象>>17.240辐射测量

替代以下标准:被GB/T 11685-2003代替

检测流程步骤

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