检测报告图片模板：
检测执行标准信息一览：
标准简介：本标准规定了半导体单晶晶向X 射线衍射定向和光图定向的方法。本标准适用于测定半导体单晶材料大致平行于低指数原子面的表面取向。
标准号：GB/T 1555-2009
标准名称：半导体单晶晶向测定方法
英文名称：Testing methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
标准状态：现行
发布日期：2009-10-30
实施日期：2010-06-01
中国标准分类号（CCS）：冶金>>半金属与半导体材料>>H80半金属与半导体材料综合
国际标准分类号（ICS）：电气工程>>29.045半导体材料
替代以下标准：替代GB/T 1555-1997
起草单位：峨嵋半导体材料厂
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
发布单位：国家质量监督检验检疫.
检测流程步骤
免责声明：
1.本站标准库为非营利性质，仅供各行人士相互交流、学习使用，使用标准请以正式出版的标准版本为准。
2.全部标准资料均来源于网络，不保证文件的准确性和完整性，如因使用文件造成损失，本站不承担任何责任。
3.全部标准资料均来源于网络，本站不承担任何技术及版权问题，如有相关内容侵权，请联系我们删除。
