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检测执行标准信息一览：
GB/T 37051-2018 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法
Test method for determination of crystal defect density in PV silicon ingot and wafer
标准 推荐性 现行英文版计划标准《太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法》由TC203(半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报及执行，主管部门为标准化管理委员会。
GB/T 37051-2018主要起草单位
英利集团有限公司 、中国电子技术标准化研究院 、江西赛维LDK太阳能高科技有限公司 、泰州中来光电科技有限公司 、晋能清洁能源科技有限公司 、镇江仁德新能源科技有限公司 、天津英利新能源有限公司 。
GB/T 37051-2018主要起草人
李锋 、李英叶 、段青春 、张伟 、吴翠姑 、冯亚彬 、裴会川 、程小娟 、唐骏 。
GB/T 37051-2018相近标准(计划)
20141879-T-469 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法GB/T 25074-2017 太阳能级多晶硅20080034-T-469 太阳能级多晶硅20141898-T-469 太阳能级多晶硅 太阳能电池用多晶硅片GB/T 29055-2019 太阳能电池用多晶硅片20162487-T-469 太阳能电池用多晶硅片GB/T 29054-2012 太阳能级铸造多晶硅块20081138-T-469 太阳能级铸造多晶硅块GB/T 29055-2012 太阳电池用多晶硅片
检测流程步骤
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