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GB 7287.9-1987.Measuriog method for norm al total emittance of infrared beater.

2.2.7辐射测温仪， 精度不低于+ 1 %。

注:由探测器、放大系统及毫伏表组成的探测系统也可由*辐射功事计代替，其精度不低于土2 %。.

2.8 参比涂料

2.8.1参比徐料应具有下列性质:

a.化学性质稳定，在测试温度范围内涂覆于各种加热器表面均不发生化学变化;

b. 当厚度不小于0.2mm时，对1 ~ 25μm的红外辐射不透明;

c.全法向发 射率在测试温度范围内的平均温度变化率小于0.03x 10 -2/K;

d. 全法向发射率大于0.8，光谱辐射特性近似灰体。

2.3.2所给 参比涂料在测试温度范围内的全法向发射率数据，其精度应不低于土4 %。

3测量条件

a.环境温度20士5 C。

b.相对 湿度不大于75%。

c.测量 应在防尘防震的实验室中进行。

4测量步骤

4.1对待测 试样施加额定工作电压，待温度稳定后，用辐射测温仪测定试样表面温度分布，并确定其中心部位的等温区以及等温区的工作温度，然后断电冷却至室温。

4.2将试样固定在试样支架上，调整光学系统达到下列要求: .

a.探测器光敏面与调制盘平面，光栏平面及试样辐射面相互平行且共轴;

b.有效限束 光栏对探测器所张的视场角不大于5.7°;

c.由有效限束光栏所决定的试样待测面积位于等温区内并小于等温区面积。

4.3将控温仪热电偶焊接或粘接于待测面附近(在等温区内)。用控温仪将待测表面温度控制在其工作温度。待温度稳定后，测量放大系统输出的试样与调制盘差分信号电压U,.

4.4关闭控温仪， 试样冷却至室温后，在等温区内均匀涂覆参比涂料，涂覆厚度为0.2mm，涂覆方法与获取其发射率数据的原测较方法中的一致。然后开启控温仪(设定温度与4.3条相同)。温度稳定后，测量放大系统输出的参比徐料与调制盘差分信号电压U.。

4.5移开试样，测较放大系统输出的背景与调制盘差分信号电压Uw。

4.6用辐射测温仪测量等温区的表观工作温度Tr。

5测量结果计算

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检测流程步骤

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