集成电路检测标准及测试方法

集成电路检测项目

封装检测，高低温检测，可靠性检测，弯扭检测，低功耗检测，盐雾检测，晶圆检测，固晶推力检测，接口插拔力检测，引脚检测，泄漏电流检测，气密性检测，第三方检测，绝缘强度检测，电磁兼容检测等。

GB/T 2900.66-2004电工术语半导体器件和集成电路

GB/T 3430-1989半导体集成电路型号命名方法

GB/T 3431.2-1986半导体集成电路文字符号引出端功能符号

GB/T 3436-1996半导体集成电路运算放大器系列和品种

GB/T 4023-2015半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二*管

GB/T 4376-1994半导体集成电路电压调整器系列和品种

GB/T 4377-2018半导体集成电路电压调整器检测方法

GB/T 4587-1994半导体分立器件和集成电路第7部分:双*型晶体管

GB/T 4589.1-2006半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范

GB/T 6798-1996半导体集成电路电压比较器检测方法的基本原理

GB/T 9178-1988集成电路术语

GB/T 12842-1991膜集成电路和混合膜集成电路术语

GB/T 14028-2018半导体集成电路模拟开关检测方法

GB/T 14029-1992半导体集成电路模拟乘法器检测方法的基本原理

GB/T 14030-1992半导体集成电路时基电路检测方法的基本原理

GB/T 14031-1992半导体集成电路模拟锁相环检测方法的基本原理

GB/T 14113-1993半导体集成电路封装术语

GB/T 14619-2013厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

GB/T 14620-2013薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

GB/T 14862-1993半导体集成电路封装结到外壳热阻检测方法

GB/T 15136-1994半导体集成电路石英钟表电路检测方法的基本原理

GB/T 15651.2-2003半导体分立器件和集成电路第5-2部分：光电子器件基本额定值和特性

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