检测报告图片

第三方检测报告有效期

一般检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。

间歇寿命试验检测项目及标准有哪些?检测实验室可根据DB61/T 1448-2021 大功率半导体分立器件间歇寿命试验规程等相关标准制定试验方案。对样品检测的间歇寿命试验等项目进行检测分析。并出具严谨公正的按钮寿命试验报告。

检测项目

间歇寿命试验等。

适用范围

PCB、电容、电阻、电感器件、电声器件、磁材料及器件、电接插元件等。

相关检测标准

DB61/T 1448-2021 大功率半导体分立器件间歇寿命试验规程

GB/T 15651.4-2017 半导体器件 分立器件 第5-4部分:光电子器件 半导体激光器

GB/T 29332-2012 半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双*晶体管

GB/T 21039.1-2007 半导体器件 分立器件 第4-1部分:微波二*管和晶体管 微波场效应晶体管空白详细规范

GB/T 20516-2006 半导体器件 分立器件 第4部分:微波器件

GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范

GB/T 13150-2005 半导体器件 分立器件 电流大于 100A、环境和管壳额定的双向三*晶闸管空白详细规范

GB/T 13151-2005 半导体器件 分立器件 第6部分;晶闸管 第三篇 电流大于100A、环境和管壳额定的反向阻断三*晶闸管空白详细规范

GB/T 15651.2-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-2部分;光电子器件基本额定值和特性

GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分;光电子器件测试方法

GB/T 6589-2002 半导体器件 分立器件 第3-2部分;信号和调整二*管电压调整二*管和电压基准二*管空白详细规范

GJB 128A-97 半导体分立器件试验方法

检测流程步骤

温馨提示：以上关于《间歇寿命试验测试报告》内容仅供参考使用，更多检测需求请咨询客服。