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硅片表面检测报告

检测报告图片

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第三方检测报告有效期

一般检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。

硅片表面检测报告如何办理?检测项目及标准有哪些?检测报告办理是拥有国内外一线的检测仪器设备,能够对硅片的表面质量进行表面电阻、平整度、弯曲度等项目的检测。

检测项目:

表面电阻、平整度、弯曲度、翘曲度、平面度等。

适用范围

单晶硅片、多晶硅片、非晶硅片、芯片用硅片、光伏板用硅片等。

相关检测标准

GB/T 6616-2009半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法

GB/T 6617-2009硅片电阻率测试 扩展电阻探针法

GB/T 6618-2009硅片厚度和总厚度变化测试方法

GB/T 6619-2009硅片弯曲度测试方法

GB/T 6620-2009硅片翘曲度非接触式测试方法

GB/T 6621-2009硅片表面平整度测试方法

GB/T 11073-2007硅片径向电阻率变化的测量方法

GB/T 12965-2018硅单晶切割片和研磨片

GB/T 13388-2009硅片参考面结晶学取向X射线测试方法

GB/T 14140-2009硅片直径测量方法

检测流程步骤

检测流程步骤

温馨提示:以上关于《硅片表面检测报告》内容仅供参考使用,更多检测需求请咨询客服。

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