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检测项目及执行标准一览表
| 序号 | 检测标准 | 检测对象 | 检测项目 |
|---|---|---|---|
| 1 | 半导体器件 分立器件 第6部分：闸流晶体管 第二篇 100A以下环境或管壳额定的双向三*闸流晶体管空白详细规范 GB/T 6590-1998 8 表3 C7 | 闸流晶体管 | 交变湿热 |
| 2 | 半导体器件 分立器件 第6部分：闸流晶体管 *篇 100A以下环境或管壳额定反向阻断三*闸流晶体管空白详细规范 GB/T 6352-1998 8 表1 A2b | 闸流晶体管 | 反向重复峰值电流 |
| 3 | 半导体器件 分立器件 第6部分：闸流晶体管 *篇 100A以下环境或管壳额定反向阻断三*闸流晶体管空白详细规范 GB/T 6352-1998 8 表1 A1 | 闸流晶体管 | 外部检验 |
| 4 | 半导体器件 分立器件 第6部分：闸流晶体管 第二篇 100A以下环境或管壳额定的双向三*闸流晶体管空白详细规范 GB/T 6590-1998 8 表1 A1 | 闸流晶体管 | 外部目验 |
| 5 | 半导体器件 分立器件 第6部分：闸流晶体管 *篇 100A以下环境或管壳额定反向阻断三*闸流晶体管空白详细规范 GB/T 6352-1998 8 表2 B5 | 闸流晶体管 | 密封（对空腔器件） |
| 6 | 半导体器件 分立器件 第6部分：闸流晶体管 第二篇 100A以下环境或管壳额定的双向三*闸流晶体管空白详细规范 GB/T 6590-1998 8 表2 B5 | 闸流晶体管 | 对空腔器件密封 |
| 7 | 半导体器件 分立器件 第6部分：闸流晶体管 *篇 100A以下环境或管壳额定反向阻断三*闸流晶体管空白详细规范 GB/T 6352-1998 8 表2 B1 | 闸流晶体管 | 尺寸 |
| 8 | 半导体器件 分立器件 第6部分：闸流晶体管 第二篇 100A以下环境或管壳额定的双向三*闸流晶体管空白详细规范 GB/T 6590-1998 8 表2 B1 | 闸流晶体管 | 尺寸 |
| 9 | 半导体器件 分立器件 第6部分：闸流晶体管 *篇 100A以下环境或管壳额定反向阻断三*闸流晶体管空白详细规范 GB/T 6352-1998 8 表2 B5 | 闸流晶体管 | 快速温度变化 |
| 10 | 半导体器件 分立器件 第6部分：闸流晶体管 第二篇 100A以下环境或管壳额定的双向三*闸流晶体管空白详细规范 GB/T 6590-1998 8 表2 B5 | 闸流晶体管 | 快速温度变化 |
检测时间周期
一般3-10天出报告，有的项目1天出报告，具体根据闸流晶体管检测项目而定。
检测报告有效期
一般闸流晶体管检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。
检测流程步骤
1、电话沟通、确认需求；
2、推荐方案、确认报价；
3、邮寄样品、安排检测；
4、进度跟踪、结果反馈；
5、出具报告、售后服务；
6、如需加急、优先处理；
温馨提示：以上关于《闸流晶体管检测》内容仅为部分列举供参考使用，百检汇集众多CNAS、CMA、CAL等资质的检测机构遍布全国，更多检测需求请咨询客服。
