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检测项目及执行标准一览表
| 序号 | 检测标准 | 检测对象 | 检测项目 |
|---|---|---|---|
| 1 | 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法2071 | 半导体分立器件筛选 | 外观及机械检验 |
| 2 | 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1051 | 半导体分立器件筛选 | 温度循环 |
| 3 | 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1026、1027 | 半导体分立器件筛选 | 稳态工作寿命 |
| 4 | 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1042 | 半导体分立器件筛选 | 老炼和寿命试验（IGBT) |
| 5 | 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1038 | 半导体分立器件筛选 | 老炼（二极管、整流管、稳压管） |
| 6 | 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1039 | 半导体分立器件筛选 | 老炼（晶体管） |
| 7 | 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1040 | 半导体分立器件筛选 | 老炼（闸流晶体管） |
| 8 | 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法2073 | 半导体分立器件筛选 | 芯片目检（半导体二极管） |
| 9 | 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1031、1032 | 半导体分立器件筛选 | 高温寿命 |
| 10 | 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1071 | 半导体分立器件筛选 | 密封性检测 |
检测时间周期
一般3-10天出报告，有的项目1天出报告，具体根据半导体分立器件筛选检测项目而定。
检测报告有效期
一般半导体分立器件筛选检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。
检测流程步骤
1、电话沟通、确认需求；
2、推荐方案、确认报价；
3、邮寄样品、安排检测；
4、进度跟踪、结果反馈；
5、出具报告、售后服务；
6、如需加急、优先处理；
温馨提示：以上关于《半导体分立器件筛选检测》内容仅为部分列举供参考使用，百检网汇集众多CNAS、CMA、CAL等资质的检测机构遍布全国，更多检测需求请咨询客服。
