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检测项目及执行标准一览表
| 序号 | 检测标准 | 检测对象 | 检测项目 |
|---|---|---|---|
| 1 | 《半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路》 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 第2节 4 | 半导体集成电路CMOS电路 | 电源电流I<Sub>DD</Sub> |
| 2 | 《半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路》 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 第3节 3.2 | 半导体集成电路CMOS电路 | 输入出低电平电压V<Sub>IL</Sub> |
| 3 | 《半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路》 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇 第2节 6 | 半导体集成电路CMOS电路 | 输入钳位电压V<Sub>IK</Sub> |
| 4 | 《半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路》 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇 第3节 3.2 | 半导体集成电路CMOS电路 | 输入高电平电压V<Sub>IH</Sub> |
| 5 | 《半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路》 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 第2节 4 | 半导体集成电路CMOS电路 | 输出低电平电流I<Sub>OL</Sub> |
| 6 | 《半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路》 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 第2节 3 | 半导体集成电路CMOS电路 | 输出短路电流I<Sub>OS</Sub> |
| 7 | 《半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路》 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 第2节 4 | 半导体集成电路CMOS电路 | 输出高电平电流I<Sub>OH</Sub> |
| 8 | 《半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路》 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 第2节 7 | 半导体集成电路CMOS电路 | 输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub> |
| 9 | 《半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路》 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 第2节 7 | 半导体集成电路CMOS电路 | 输出高阻态时高电平电流I<Sub>OZH</Sub> |
| 10 | 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法 1014.2 | 半导体集成电路CMOS电路 | 密封 |
检测时间周期
一般3-10天出报告，有的项目1天出报告，具体根据半导体集成电路CMOS电路检测项目而定。
检测报告有效期
一般半导体集成电路CMOS电路检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。
检测流程步骤
1、电话沟通、确认需求；
2、推荐方案、确认报价；
3、邮寄样品、安排检测；
4、进度跟踪、结果反馈；
5、出具报告、售后服务；
6、如需加急、优先处理；
温馨提示：以上关于《半导体集成电路CMOS电路检测》内容仅为部分列举供参考使用，百检网汇集众多CNAS、CMA、CAL等资质的检测机构遍布全国，更多检测需求请咨询客服。
