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半导体集成电路CMOS电路检测

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半导体集成电路CMOS电路检测

检测项目及执行标准一览表

序号 检测标准 检测对象 检测项目
1 《半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路》 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 第2节 4 半导体集成电路CMOS电路 电源电流I<Sub>DD</Sub>
2 《半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路》 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 第3节 3.2 半导体集成电路CMOS电路 输入出低电平电压V<Sub>IL</Sub>
3 《半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路》 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇 第2节 6 半导体集成电路CMOS电路 输入钳位电压V<Sub>IK</Sub>
4 《半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路》 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇 第3节 3.2 半导体集成电路CMOS电路 输入高电平电压V<Sub>IH</Sub>
5 《半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路》 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 第2节 4 半导体集成电路CMOS电路 输出低电平电流I<Sub>OL</Sub>
6 《半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路》 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 第2节 3 半导体集成电路CMOS电路 输出短路电流I<Sub>OS</Sub>
7 《半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路》 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 第2节 4 半导体集成电路CMOS电路 输出高电平电流I<Sub>OH</Sub>
8 《半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路》 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 第2节 7 半导体集成电路CMOS电路 输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub>
9 《半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路》 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 第2节 7 半导体集成电路CMOS电路 输出高阻态时高电平电流I<Sub>OZH</Sub>
10 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法 1014.2 半导体集成电路CMOS电路 密封

检测时间周期

一般3-10天出报告,有的项目1天出报告,具体根据半导体集成电路CMOS电路检测项目而定。

检测报告有效期

一般半导体集成电路CMOS电路检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。

检测流程步骤

1、电话沟通、确认需求;

2、推荐方案、确认报价;

3、邮寄样品、安排检测;

4、进度跟踪、结果反馈;

5、出具报告、售后服务;

6、如需加急、优先处理;

检测流程步骤

温馨提示:以上关于《半导体集成电路CMOS电路检测》内容仅为部分列举供参考使用,百检网汇集众多CNAS、CMA、CAL等资质的检测机构遍布全国,更多检测需求请咨询客服。

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