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FPGA静态参数检测

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FPGA静态参数检测

检测项目及执行标准一览表

序号 检测标准 检测对象 检测项目
1 半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法 SJ/T11706-2018 5.1.3 FPGA静态参数 输入低电平电压(VIL)
2 半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法 SJ/T11706-2018 5.1.2 FPGA静态参数 输入高电平电压(VIH)
3 半导体器件 集成电路 第2部分 数字集成电路 GB/T 17574-1998 IV FPGA静态参数 输出低电平电压(VOL)
4 半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法 SJ/T11706-2018 5.1.5 FPGA静态参数 输出低电平电压(VOL)
5 半导体器件 集成电路 第2部分 数字集成电路 GB/T 17574-1998 IV FPGA静态参数 输出高电平电压(VOH)
6 半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法 SJ/T11706-2018 5.1.4 FPGA静态参数 输出高电平电压(VOH)
7 半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法 SJ/T11706-2018 5.1.13 FPGA静态参数 配置数据能保持的较低内核电源电压(VDRINT)
8 半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法 SJ/T11706-2018 5.1.14 FPGA静态参数 配置数据能保持的较低接口电源电压(VDRIO)
9 半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法 SJ/T11706-2018 5.1.6 FPGA静态参数 静态接口电源电流(ICCQQ)

检测时间周期

一般3-10天出报告,有的项目1天出报告,具体根据FPGA静态参数检测项目而定。

检测报告有效期

一般FPGA静态参数检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。

检测流程步骤

1、电话沟通、确认需求;

2、推荐方案、确认报价;

3、邮寄样品、安排检测;

4、进度跟踪、结果反馈;

5、出具报告、售后服务;

6、如需加急、优先处理;

检测流程步骤

温馨提示:以上关于《FPGA静态参数检测》内容仅为部分列举供参考使用,百检网汇集众多CNAS、CMA、CAL等资质的检测机构遍布全国,更多检测需求请咨询客服。

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