- N +

半导体器件(二极管)检测

检测报告模板

检测报告图片

检测报告图片模板

半导体器件(二极管)检测

检测项目及执行标准一览表

序号 检测标准 检测对象 检测项目
1 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法4023 半导体器件(二极管) 击穿电压
2 半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管 GB/T 4023-2015 第Ⅳ章 半导体器件(二极管) 击穿电压
3 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法4016 半导体器件(二极管) 反向电流
4 半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 GB/T 6571-1995 第Ⅳ章第1节1 半导体器件(二极管) 反向电流
5 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法4011 半导体器件(二极管) 正向电压
6 半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 GB/T 6571-1995 第Ⅳ章第1节2 半导体器件(二极管) 正向电压

检测时间周期

一般3-10天出报告,有的项目1天出报告,具体根据半导体器件(二极管)检测项目而定。

检测报告有效期

一般半导体器件(二极管)检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。

检测流程步骤

1、电话沟通、确认需求;

2、推荐方案、确认报价;

3、邮寄样品、安排检测;

4、进度跟踪、结果反馈;

5、出具报告、售后服务;

6、如需加急、优先处理;

检测流程步骤

温馨提示:以上关于《半导体器件(二极管)检测》内容仅为部分列举供参考使用,百检网汇集众多CNAS、CMA、CAL等资质的检测机构遍布全国,更多检测需求请咨询客服。

返回列表
上一篇:半导体器件集成电路存储器检测
下一篇:内部目检检测