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检测项目及执行标准一览表
| 序号 | 检测标准 | 检测对象 | 检测项目 |
|---|---|---|---|
| 1 | 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇 第3节 6 | 半导体器件集成电路存储器 | 功能测试（全0全1，55AA、互补读写、Match算法等） |
| 2 | 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 测试方法 第3节 6 | 半导体器件集成电路存储器 | 功能测试（全0全1，55AA、互补读写、Match算法等） |
| 3 | 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 测试方法 第3节 1 | 半导体器件集成电路存储器 | 动态条件下的总电源电流 |
| 4 | 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇 第3节 1 | 半导体器件集成电路存储器 | 动态条件下的总电源电流 |
| 5 | 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 测试方法 第3节 4.6 | 半导体器件集成电路存储器 | 存储器的特定时间 |
| 6 | 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇 第3节 4.6 d4） | 半导体器件集成电路存储器 | 存储器的特定时间：写恢复时间 |
| 7 | 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇 第3节 4.6 d3） | 半导体器件集成电路存储器 | 存储器的特定时间：读存取时间 |
| 8 | 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 测试方法 第3节 4.2 | 半导体器件集成电路存储器 | 延迟时间 |
| 9 | 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇 第3节 4.2 | 半导体器件集成电路存储器 | 延迟时间 |
| 10 | 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 测试方法 第2节 2 | 半导体器件集成电路存储器 | 输入低电平电流I<Sub>IL |
检测时间周期
一般3-10天出报告，有的项目1天出报告，具体根据半导体器件集成电路存储器检测项目而定。
检测报告有效期
一般半导体器件集成电路存储器检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。
检测流程步骤
1、电话沟通、确认需求；
2、推荐方案、确认报价；
3、邮寄样品、安排检测；
4、进度跟踪、结果反馈；
5、出具报告、售后服务；
6、如需加急、优先处理；
温馨提示：以上关于《半导体器件集成电路存储器检测》内容仅为部分列举供参考使用，百检网汇集众多CNAS、CMA、CAL等资质的检测机构遍布全国，更多检测需求请咨询客服。
