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数显卡尺检测

检测报告图片

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检测报告有效期

检测报告上不会标注有效期。一般数显卡尺检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。

检测项目:

温度变化试验、湿热试验、电子数显器的性能、通讯接口、圆弧内测量爪合并宽度的实际偏差及圆弧内测量面的平行度、数显卡尺、电子数显器性能、相互作用、防尘防水试验、外观、测量面的表面粗糙度、平面度、平行度及合并间隙、圆弧内测量爪合并宽度的实际偏差及其圆弧内测量面的平行度、标志与包装、数显卡尺检定校准、两刀口内量爪相对平面间的间隙、两外测量面的合并间隙、两测量爪伸出长度差、刀口形内测量爪的尺寸偏差、刀口形内测量爪的平行度、响应速度、圆弧形内测量爪尺寸偏差、圆弧形内测量爪的平行度、外测量示值误差、外测量面的平面度、工作电流、抗电磁干扰实验、抗静电干扰实验、数值漂移、测台示值误差、测深示值误差、测量面的硬度、温度变化实验、湿热实验、重复性、防尘、防水实验、外测量面的平行度、全部项目、电子数显卡尺检定校准、较大允许误差

检测标准:

1、 通用卡尺检定规程JJG30

2、JJG30 通用卡尺检定规程

3、JJG30-2012 通用卡尺检定规程

4、DB32/T186-2015F08911

5、GB/T 21389-2008 游标、带表和数显卡尺 GB/T 21389-2008

6、GB/T 21389-2008 游标、带表和数显卡尺 6.1

7、JJG 30 通用卡尺检定规程

8、GB/T21389-2008 游标、带表和数显卡尺 8.9

9、GB/T 21388-2008 游标、带表和数显深度卡尺

10、DB32/T186-2015F09123

检测流程步骤

检测流程步骤

温馨提示:《数显卡尺检测》内容仅为部分列举供参考使用,百检网汇集众多CNAS、CMA、CAL等资质的检测机构遍布全国,更多检测需求请咨询客服。

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