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透射电子显微镜样品形貌分析

检测报告图片

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检测报告有效期

检测报告上不会标注有效期。一般透射电子显微镜样品形貌分析报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。

高分辨透射电子显微镜样品形貌分析主要技术指标:

1、点分辨率:0.25nm;线分辨率:0.102nm;STEM分辨率:0.20nm

2、加速电压:80,100,200KV

3、倾斜角(X/Y):±42/±30°;

4、配备德国Bruker公司XFlash 5030T型X射线能谱仪

应用范围:

1.应用于材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体、纳米技术等领域的显微形貌、晶体结构和相组织的观察与分析;

2.各种材料微区化学成分的定性和半定量检测;

3.粉末、纳米粒子形态和粒度测定;

4.复合材料界面特性的研究。


检测流程步骤

检测流程步骤

温馨提示:《透射电子显微镜样品形貌分析》内容仅为部分列举供参考使用,百检网汇集众多CNAS、CMA、CAL等资质的检测机构遍布全国,更多检测需求请咨询客服。

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