检测报告图片

检测报告有效期

检测报告上不会标注有效期。一般TOF-SIMS分析检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。

ASTM E1-2011:报告次级离子质谱法(SIMS)中溅射深度截面数据的标准实施规程

ASTM E1438-2011:用次级离子质谱法(SIMS)测量深度掺杂分布界面宽度标准指南

TOF-SIMS分析检测用途

掺杂剂与杂质的深度剖析

薄膜的成份及杂质测定 (金属、电介质、锗化硅 、III-V族、II-V族)

超薄薄膜、浅植入的超高深度辨析率剖析

硅材料整体分析，包含B, C, O,以及N

工艺工具(离子植入)的高精度分析

检测流程步骤

温馨提示：《TOF-SIMS分析检测》内容仅为部分列举供参考使用，百检网汇集众多CNAS、CMA、CAL等资质的检测机构遍布全国，更多检测需求请咨询客服。