检测报告图片
检测报告有效期
检测报告上不会标注有效期。一般集成电路测试仪检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。
集成电路测试仪检测报告如何办理?测试哪些项目呢?检测费用价格是多少呢?下面小编为您解答。百检也可依据相应集成电路测试仪检测标准或者根据您的需求设计检测方案。【详情咨询:132-6275-2056】。做检测,上百检!我们只做真实检测。
检测周期
一般3-15个工作日,可加急。
检测方式
可寄样检测、目测检测、见证试验、现场检测等。
检测费用
具体根据集成电路测试仪检测检测数量和项目而定。详情请咨询在线客服。
检测产品
0集成电路测试仪简介
集成电路测试仪是对集成电路进行测试的专用仪器设备。集成电路测试是保证集成电路性能、质量的关键手段之一。集成电路测试技术是发展集成电路产业的三大支撑技术之一,因此,集成电路测试仪作为一个测试门类受到很多国家的高度重视。40年来,随着集成电路发展到第四代,集成电路测试仪也从较初测试小规模集成电路发展到测试中规模、大规模和超大规模集成电路,到了八十年代,超大规模集成电路测试仪进入全盛时期
1集成电路测试仪集成电路测试仪组成
集成电路测试仪的整体结构如图所示:
整个系统机械上采用插槽式结构,所有系统板都通过系统插槽插到机箱背板上,机箱背板上的系统内总线通过PCI接口板与计算机PCI总线相连。机箱背板上共涉及12个插槽,其中一个用于插系统控制板,一个用于插电源模块,其余10个是通用插槽,根据测试需要可以插任何一个系统版。被测器件DUT通过继电器矩阵板与测试仪连接,继电器矩阵板完成被测器件DUT与测试仪各通道之间的切换。测试仪通过PCI总线与计算机相连,整个系统的控制由计算机完成。该系统可以一次完成两个被测器件DUT的测试。
2集成电路测试仪集成电路测试仪供能
1.测试模拟集成电路、数字集成电路以及数模混合集成电路。
2.测试IC器件的直流、交流及动态参数。
3.可提供多达64管脚的模拟IC测试和32管脚的数字IC测试能力。
3集成电路测试仪发展过程
集成电路测试仪的发展过程可以粗略地分为四个时代。
代始于1965年,测试对象是小规模集成电路,可测管脚数达16只。用导线连接、拨动开关、按钮插件、数字开关或二极管矩阵等方法,编制自动测试序列,仅仅测量IC外部管脚的直流参数。
第二代始于1969年,此时计算机的发展已达到适用于控制测试仪的程度,测试对象扩展到中规模集成电路,可测管脚数24个,不但能测试IC的直流参数,还可用低速图形测试IC的逻辑功能。这是一个飞跃。
第三代始于1972年,这时的测量对象扩展到大规模集成电路(LSI),可测管脚数达60个,较突出的进步是把功能测试图形速率提高到10MHz。从1975年开始,测试对象为大规模、超大规模集成电路(LSI/VLSI),可测管脚剧增到128个,功能测试图形速率提高到20MHz。不但能有效地测量CMOS电路,也能有效地测量TTL、ECL电路。此时作为独立发展的半导体自动测试设备,无论其软件、硬件都相当成熟。
1980年测试仪进入第四代,测量对象为VLSI,可测管脚数高达256个,功能测试图形速率高达100MHz,测试图形深度可达256K以上。测试仪的智能化水平进一步提高,具备与计算机辅助设计(CAD)连接能力,利用自动生成测试图形向量,并加强了数字系统与模拟系统的融合。有些系统实现了与激光修调设备连机工作,对存储器、A/D、D/A等IC芯片进行修正。从1970年仙童(Fairchard)公司形成Sentry系列以来,继而形成系列的还有泰克(Tektronix)公司的3200系列,泰瑞达(Teradyne)公司的A380系列、A300系列、日木安藤电气(AndoElectron)的8000系列、爱德万(Aduantest)的T3100、T320、T3700系列以及美国Megatest公司的Q-11系列,都取得较好的效益 。
21世纪,测试仪的功能测试速率已达500MHz以上,可测管脚数多达1024个,定时精度±55ps,测试仪的发展速度是惊人的。
4集成电路测试仪分类
按集成电路分类:数字集成电路测试仪和模拟集成电路测试仪
按功能分类:集成电路功能测试仪和集成电路参数测试仪
按形式分类:便携式集成电路测试仪和台式集成电路测试仪
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检测流程步骤
温馨提示:《集成电路测试仪检测》内容仅为部分列举供参考使用,百检网汇集众多CNAS、CMA、CAL等资质的检测机构遍布全国,更多检测需求请咨询客服。