检测报告图片
检测报告有效期
检测报告上不会标注有效期。一般军用电子元器件检测项目及标准列举报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。
*用电子元器件检测需要根据标准内指定项目、方法进行，GB国标、行标、外标、企标、地方标准。*用电子元器件检测项目和标准是什么?第三方检测机构提供*用电子元器件检测报告办理，工程师一对一服务，根据需求选择对应检测标准及项目，制定检测方案后安排实验室寄样检测。*用电子元器件检测服务
检测样品：纺织品、化妆品、食品、农产品、绝缘工具、五金件等
报告资质：CNAS/CMA/CAL
报告周期：常规3-15个工作日，特殊样品、检测项目除外。
检测费用：根据检测项目收费，详情请咨询。
*用电子元器件检测项目：
检测项目：
光电器件DPA试验、半导体分立器件DPA试验、声表面滤波器DPA试验、开关DPA试验、敏感元件和传感器DPA试验、滤波器DPA试验、电容器DPA试验、电连接器DPA试验、电阻器DPA试验、石英晶体和压电元件DPA试验、线圈和变压器DPA试验、继电器DPA试验、集成电路DPA试验、X射线检查、内部气体成份分析、内部目检、制样镜检、外部目检、密封、引出端强度、扫描电子显微镜检查、玻璃钝化层的完整性检查、粒子碰撞噪声检测、芯片剪切强度、芯片粘接的超声检测、键合强度、声学扫描显微镜检查、扫描电子显微镜（SEM）检查、玻璃钝化层完整性检查
*用电子元器件检测标准：
检测标准：
1、GJB 360A-1996 电子及电气元件试验方法 方法209
2、GJB 4027A-2006 *用电子元器件破坏性物理分析方法 工作项目1201、1202
3、GJB4027A-2006 扫描电子显微镜检查
4、SJ 20527A-2003 微波组件通用规范 4.6.3
5、GJB360A-1996 X射线检查
6、SJ 20527-1995 微波组件总规范 4.8.1
7、GJB 4027A-2006 *用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006
8、GJB 5914-2006 各种质量等级*用半导体器件破坏性物理分析方法 4.3.2
9、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法1018
10、SJ20527A-2003 外部目检
11、GJB360B-2009 X射线检查
12、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法2010.1、2013、2014或2017.1
13、GJB548B-2005 扫描电子显微镜检查
14、GJB-4027A-2006 *用电子元器件破坏性物理分析
15、GJB 8481-2015 微波组件通用规范 4.11.3
16、GJB 4152A-2014 多层瓷介电容器及其类似元器件剖面制备及检验方法
17、GJB128A-1997 扫描电子显微镜检查
18、SJ 20642-1997 半导体光电模块总规范 4.10.11
19、GJB548A-1996 外部目检
20、GJB91**-1997 外部目检
检测流程
1、确认样品和需求
2、制定方案
3、报价
4、双方确定，签订保密协议，开始实验
5、3-15个工作日（特殊样品除外）完成实验
6、出具检测报告，后期服务。
检测报告作用：
1、项目招投标：CMA/CNAS资质报告;
2、上线电商平台入驻：质检报告各大电商平台认可;
3、用作销售报告：出具具有法律效应的检测报告，让消费者更放心;
4、论文及科研：提供的个性化检测需求;
5、司法服务：提供科学、公正、准确的检测数据;
6、工业问题诊断：验证工业生产环节问题排查和修正;
百检检测特点：
1、检测行业覆盖面广，满足不同的检测;
2、实验室全覆盖，就近分配本地化检测;
3、工程师一对一服务，让检测更准确
4、免费初检，初检不收取检测费用
5、自助下单 快递免费上门取样;
6、周期短，费用低，服务周到;
7、实验室CMA、CNAS、CAL资质;
检测流程步骤
温馨提示：《军用电子元器件检测项目及标准列举》内容仅为部分列举供参考使用，百检网汇集众多CNAS、CMA、CAL等资质的检测机构遍布全国，更多检测需求请咨询客服。
