检测报告图片

检测报告有效期

检测报告上不会标注有效期。一般半导体光电器件检测报告项目和标准介绍报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。

半导体光电器件检测需要根据标准内指定项目、方法进行，GB国标、行标、外标、企标、地方标准。半导体光电器件检测项目和标准是什么?第三方检测机构提供半导体光电器件检测一站式服务，工程师一对一服务，确认需求、推荐方案、寄样送检、出具报告、售后服务，3-15工作日出具报告，欢迎咨询半导体光电器件检测服务

检测周期：常规3-15个工作日，可加急（特殊样品除外）

报告样式：电子版、纸质，中、英文均可。

报告资质：CMA、CNAS

半导体光电器件检测项目：

检测项目：

低温存储试验、冷热冲击试验、微米级长度测量、温度偏置寿命试验、温度偏置寿命试验（脉冲）、温度循环偏置试验、温度循环试验、温湿度偏压寿命试验、温湿度存储试验、高温存储试验

半导体光电器件检测标准：

检测标准：

1、JESD22-A103E (October 2015) 高温存储试验

2、JESD22-A105C; Method A、 B (Jan 2004) 温度循环偏置试验

3、IEC 60068-2-1 (Edition 6.0 2007-03) 环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温

4、JESD22-A106B.01 (Nov 2016) 冷热冲击试验

5、JESD22-A104E(Oct 2014) 温度循环试验

6、JESD22-A119A; Condition A (Oct 2015) 低温存储试验 JESD22-A119A; Condition A (Oct 2015)

7、JESD22-A101D (July 2015) 温湿度偏压寿命试验

8、JESD22-A108F (Jul 2017) 温度、偏置和寿命试验

9、IEC 60068-2-67 (Edition 1.0 1995-12) 环境试验 第2-67部分:试验方法 试验Cy:稳态湿热加速试验(主要用于部件)

10、GB/T 16594-2008 微米级长度的扫描电镜测量方法通则

11、JESD 22-A101D 温湿度存储试验 JESD22-A101D (July 2015)

12、IEC60069-2-2 第5版 2007-07 环境试验方法 2-2部分 试验B：高温

13、IEC 60068-2-14; Test N (Edition 6.0 2009-01) 冷热冲击试验

样品检测流程：

1、致电咨询百检客服，确认样品及需求。

2、客服安排工程师对接，根据需求制定检测方案。

3、确认方案、报价后签订合同，安排寄样检测。

4、实验室根据需求，对样品开展检测工作。

5、检测结束，出具样品检测报告。

6、如需加急请提前与工程师或客服进行沟通。

百检检测报告用途

销售：出具检测报告，提成产品竞争力。

研发：缩短研发周期，降低研发成本。

质量：判定原料质量，减少生产风险。

诊断：找出问题根源，改善产品质量。

科研：定制完整方案，提供原始数据。

竞标：报告认可度高，提高竞标成功率。

检测项目及检测标准相关信息就介绍到这里。第三方检测机构期待与您的合作，详情请联系百检客服。

检测流程步骤

温馨提示：《半导体光电器件检测报告项目和标准介绍》内容仅为部分列举供参考使用，百检网汇集众多CNAS、CMA、CAL等资质的检测机构遍布全国，更多检测需求请咨询客服。