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检测报告有效期

检测报告上不会标注有效期。一般导体材料检测检验认证测试报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。

导体材料检测报告如何办理？测试哪些项目？测试标准有哪些？百检也可依据相应检测标准或者根据您的需求设计检测方案。做检测，上百检！我们只做真实检测。

检测项目：

体积电阻率、单位长度电阻、抗拉强度和断裂伸长率试验、标准温度电阻、电导率、电阻率、直流电阻比率、缠绕试验、质量电阻率、金属丝外径、金属护套厚度、铠装金属丝镀层重量试验、锡和银镀层连续性试验、镍镀层连续性试验、导电率、基体金属杂质含量(钾、钠、钙、镁、铝、铬、铁、镍、铜、锌)、工业硅中铁、铝、钙含量、碳化硅单晶抛光片微管密度、碳化硅单晶晶型、表面金属杂质含量(钾、钠、钙、镁、铝、铬、铁、镍、铜、锌)、电阻率(电阻系数)、荧光粉测定(发射峰值波长、发光效能、光转化效率、量子效率、色品坐标、发射光谱、相对亮度)、交流电压试验、直流电压试验、金属材料电阻率试验、选区电子衍射、表面粗糙度、平整度、结晶质量、方块电阻、迁移率和载流子浓度、外延片发光波长、表面缺陷、外延层厚度、外延层掺杂浓度、碳、硫、锂、铍、硼、氟、钠、镁、铝、锗、硫、磷、氯、钾、钙、钪、钛、钒、铬、锰、铁、钴、镍、铜、锌、镓、砷、硒、溴、铷、锶、钇、锆、铌、钼、钌、铑、钯、银、镉、铟、锡、锑、碲、碘、铯、钡、镧、铈、镨、钕、钐、铕、钆、铽、镝、钬、铒、铥、镱、镥、铪、钽、钨、铼、锇、铱、铂、金、汞、铊、铅、铋、钍、铀

检测标准：

1、GB/T 20123-2006/ISO 15350:2000 钢铁 总碳硫含量的测定 高频感应炉燃烧后红外吸收法(常规方法)

2、GB/T 1551-2009 硅单品电阻率测定方法

3、GB/T 14634.2-2010 荧光粉测定(发射峰值波长、发光效能、光转化效率、量子效率、色品坐标、发射光谱、相对亮度)

4、ASTM B 193-20 电工导体材料电阻率标准试验方法 ASTM B193-20

5、GB/T 18907-2013 微束分析 分析电子显微术 透射电镜选区电子衍射分析方法/

6、GB/T 12966:2008 铝合金电导率涡流测试方法

7、GB/T 14141-2009 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法

8、GB/T 32651-2016 采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法

9、GB/T 14634.1-2010 荧光粉测定(发射峰值波长、发光效能、光转化效率、量子效率、色品坐标、发射光谱、相对亮度)

10、AS/NZS1660.1:1998 电缆、电线和导体试验方法—导体和金属

11、GB/T 5838.3-2015 荧光粉测定(发射峰值波长、发光效能、光转化效率、量子效率、色品坐标、发射光谱、相对亮度)

12、SJ 21535-2018 电力电子器件用碳化硅外延片规范 SJ21535-2018

13、GB/T 351-2019 金属材料 电阻率测量方法

14、ASTMB193-16 电工导体材料电阻率标准试验方法

15、CSA22.2NO.0.3-09(R2019) 电线电缆试验方法

16、GB/T 30854-2014 LED发光用氮化镓基外延片 GB/T 30854-2014

17、AS/NZS 1660.1:1998 电缆、电线和导体试验方法—导体和金属 2

18、SJ 21535-2018 电力电子器件用碳化硅外延片规范 SJ 21535-2018

19、GB/T 24582-2009 表面金属杂质含量(钾、钠、钙、镁、铝、铬、铁、镍、铜、锌)

20、SJ/T 11501-2015 碳化硅单晶晶型的测试方法

检测报告用途

商超入驻、电商上架、内部品控、招投标、高校科研等。

检测报告有效期

一般检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。常规来说只要测试没更新，测试不变检测报告一直有效。如果是用于过电商平台，一般他们只认可一年内的。所以还要看平台或买家的要求。

检测费用价格

因测试项目及实验复杂程度不同，具体请联系客服确定后进行报价。

检测流程步骤

温馨提示：《导体材料检测检验认证测试》内容仅为部分列举供参考使用，百检网汇集众多CNAS、CMA、CAL等资质的检测机构遍布全国，更多检测需求请咨询客服。