半导体可控硅检测需要根据标准内指定项目、方法进行，GB国标、行标、外标、企标、地方标准。半导体可控硅检测样品检测报告结果会与标准中要求对比，在报告中体现产品质量。第三方检测机构可提供半导体可控硅检测一站式服务，工程师一对一服务，确认需求、推荐方案、寄样送检、出具报告、售后服务，3-15工作日出具报告，欢迎咨询半导体可控硅检测服务

检测周期：常规3-15个工作日，可加急（特殊样品除外）

报告样式：电子版、纸质，中、英文均可。

报告资质：CMA、CNAS

半导体可控硅检测项目：

检测项目：

低温检测、反向峰值电流IRRM、擎住电流IL、断态峰值电流IDRM、维持电流IH、通态峰值电压VTM、通态斜率电阻Rt、门*触发直流电压VGT、门*触发直流电流IGT、高温反偏试验、高温检测

半导体可控硅检测标准：

检测标准：

1、GB/T15291-2015 半导体器件 第 第6部分 晶闸管 9.1.2、9.1.3、 9.1.4、 9.1.5、 9.1.6、 9.1.7

2、GB/T 15291-2015 半导体器件 第 第6部分 晶闸管 GB/T15291-2015

3、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 1040

百检检测服务流程

1. 样品提供：客户提供待检测样品，并拟定检测方案;

2. 样品接收：实验室收到样品后进行核查并录入样品信息;

3. 样品处理：将样品进行必要的前处理，确保检测结果的准确性;

4. 检测分析：利用适当的物理、化学或生物学方法对样品进行检测，保证检测的覆盖率和准确度;

5. 结果报告：按照检测方案，将检测结果用简要、准确的方式告知客户并提供详细的检测报告。

检测报告用途：

商超入驻、电商上架、内部品控、招投标、高校科研等。

以上文章内容为部分列举，更多检测需求及详情免费咨询机构在线客服，做检测上百检，实样检测，真实报告。

检测流程步骤

温馨提示：以上内容仅供参考使用，更多检测需求请咨询客服。