晶体结构分析范围
二氧化锰，铝，钨酸锰，铜粉，氯化钠，萤石，金属，石膏，镀层，氧化锆，mof，金刚石，聚合物，白云石，粉末固体制剂，负膨胀材料，金属间化合物，磁性羟基磷灰石，矿物，聚丙烯腈基碳纤维石墨化等。
晶体结构分析项目
xrd晶体结构分析，X射线晶体结构衍射分析，XRD图谱分析，晶体结构分析检测，晶体结构形貌分析，晶体结构分析测定，晶体结构特征分析，晶体结构缺陷分析，电子衍射晶体结构分析，tem晶体结构分析，傅里叶变换晶体结构分析等。（更多分析范围及项目，您可以与我们实验室工程师沟通，为您详细解答。）
分析报告有哪些用途?
1、销售使用。
2、研发使用。
3、改善产品质量。
4、科研论文数据使用。
5、质量控制使用。
晶体结构分析标准
DIN 50434-1986半导体材料的检验; 单晶硅试样的 和 蚀面上晶体结构缺陷的测定
JY/T008-1996 JY/T 008-1996 四圆单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则
检测流程步骤
温馨提示：以上内容仅供参考使用，更多检测需求请咨询客服。
