硅片电阻率检测什么单位可以做?检测项目及标准有哪些?检测实验室可依据GB/T 29055-2019 太阳能电池用多晶硅片等相关标准制定试验方案。对硅片检测的电阻率等项目进行检测分析。并出具严谨公正的硅片电阻率检测报告。
检测项目
表面薄膜厚度、密度测试、翘曲度测试、表面粗糙度、电阻率、电阻、径向电阻率变化等等。
适用范围
单晶硅片、多晶硅片、半导体材料用硅片等。
相关检测标准
GB/T 40279-2021 硅片表面薄膜厚度的测试 光学反射法
GB/T 29055-2019 太阳能电池用多晶硅片
GB/T 37051-2018 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测试方法
GB/T 32280-2015 硅片翘曲度测试 自动非接触扫描法
GB/T 30869-2014 太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法
GB/T 29505-2013 硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法
GB/T 11073-2007 硅片径向电阻率变化的测量方法
GB/T 15615-1995 硅片抗弯强度测试方法
GB/T 6616-1995 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层 电阻测试 非接触涡流法
GB/T 6617-1995 硅片电阻率测试 扩展电阻探针法
GB/T 11073-1989 硅片径向电阻率变化的测量方法
检测流程步骤
温馨提示：以上内容仅供参考使用，更多检测需求请咨询客服。
