参考答案:
X射线荧光光谱分析参考哪些方法?检测标准有哪些?费用是多少?百检可依据相关标准制定试验方案。对粉末、块状、薄膜等样品进行检测分析。并出具严谨公正的检测报告。
项目简介
X射线荧光光谱可测元素范围:常规检测范围9F-92U,一般是半定量检测,测到的都是元素含量,氧化物含量也是根据单质含量进行换算的,可作为一种快速的无损分析。
适用样品
样品状态:可为粉末、块状、薄膜样品、块状、薄膜样品:块体要求表面平整光洁无污染等。
相关参考标准
GB/T 41497-2022 钒铁 钒、硅、磷、锰、铝、铁含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法
GB/T 3286.11-2022 石灰石及白云石化学分析方法 第11部分:氧化钙、氧化镁、二氧化硅、氧化铝及氧化铁含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法(熔铸玻璃片法)
GB/T 6609.30-2022 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第30部分:微量元素含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法
GB/T 40915-2021 X射线荧光光谱法测定钠钙硅玻璃中SiO2、Al2O3、Fe2O3、K2O、Na2O、CaO、MgO含量
GB/T 5687.13-2021 铬铁 铬、硅、锰、钛、钒和铁含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法(熔铸玻璃片法)
GB/T 40312-2021 磷铁 磷、硅、锰和钛含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法(熔铸玻璃片法)
GB/T 40311-2021 钒渣 多元素的测定 波长色散X射线荧光光谱法(熔铸玻璃片法)
GB/T 40110-2021 表面化学分析 全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定硅片表面元素污染
GB/T 39560.301-2020 电子电气产品中某些物质的测定 第3-1部分:X射线荧光光谱法筛选铅、汞、镉、总铬和总溴
GB/T 8151.22-2020 锌精矿化学分析方法 第22部分:锌、铜、铅、铁、铝、钙和镁含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法
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